L''évolution de la concurrence industrielle nécessite de prévoir des niveaux de fiabilité de plus en plus rapidement, ce qui conduit à effectuer des essais dits "de durées de vie accélérés", habituellement nommés ALT (pour Accelerated Life Testing). Il s''agit de soumettre un échantillon à des niveaux de sollicitation supérieurs à celui pour lequel le produit a été conçu (niveau nominal) et à extrapoler à ce niveau nominal les distributions de durées de vie obtenues aux niveaux sévérisés. Le problème est qu''en phase de conception, on ne dispose habituellement que d''un nombre réduit de spécimens, que l''on ne connaît pas encore de modèle de vie accéléré, et qu''il faut pouvoir modifier la conception sans devoir réitérer de longues campagnes de tests. C''est à ces impératifs spécifiques à la période de conception que le présent ouvrage propose de répondre.
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