Les propriétés structurales et électriques d'une série de films minces de Fe préparés par évaporation thermique sous vide, sur des substrats de silicium mono cristallins de texture , des substrats amorphes (lames de verre) et des substrats d'Aluminium polycristallins, ont étés étudiées. Nos films de Fe ont les épaisseurs 76 nm, 105 nm, 99 nm, 160 nm et 431 nm déposés sur différents substrats. Nous avons présentés les techniques d'élaboration (Évaporateur MECA2000) et de caractérisations (XRD, RBS, MEB et la quatre pointes) de nos couches minces de Fe. De plus il existe un objectif commun à toutes ces caractérisations: on a souvent besoin d'obtenir des dépôts continus avec des interfaces planes. Différentes techniques de synthèse conduisant à des dépôts amorphes, polycristallins ou monocristallins sont utilisées selon les thèmes d'étude. Dans le futur, nous proposons d'etudier les propriétés magnétiques de ces systèmes.
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